-
1 дифракционный метод
Engineering: diffraction methodУниверсальный русско-английский словарь > дифракционный метод
-
2 дифракционный метод
adjauto. Rasterverfahren (напр., для определения поперечного сечения автомобиля) -
3 дифракционный метод
-
4 дифракционный метод
Русско-английский словарь по электронике > дифракционный метод
-
5 дифракционный метод
Русско-английский словарь по радиоэлектронике > дифракционный метод
-
6 дифракционный метод Берга-Баррета
Универсальный русско-английский словарь > дифракционный метод Берга-Баррета
-
7 кристалл-дифракционный метод
Makarov: crystal-diffraction methodУниверсальный русско-английский словарь > кристалл-дифракционный метод
-
8 кристалл-дифракционный метод
Русско-английский физический словарь > кристалл-дифракционный метод
-
9 метод
м.method, technique- абсорбционный метод
- адиабатический метод
- аксиоматический метод
- активационный метод
- активный метод управления горением
- акустико-топографический метод
- акустической эмиссии метод
- альфа-ионизационный метод
- анаглифический метод
- аналитический метод
- аналоговый метод
- аргоновый метод
- асимптотический метод
- астрономические методы
- бестигельный метод
- вариационный метод
- велосиметрический метод
- весовой метод
- визуальный метод
- вискозиметрический метод падающего шарика
- вискозиметрический метод соосных цилиндров
- водный метод
- времяпролётный метод
- геометрический метод
- гибридный метод
- гидротермальный метод
- гироскопический метод
- голографический метод
- градиентный метод
- графический метод
- графоаналитический метод
- двухступенчатый метод Лакса - Вендорфа
- диаграммный метод Майера
- дифракционный метод
- дифференциальный метод
- дифференциальный муаровый метод
- диффузионный метод
- доплеровский метод
- дымовой метод
- ёмкостный метод
- зарядовый метод
- золь-гель метод
- зондовый метод
- идеализированный метод
- изотермический метод
- изотопный метод
- иммерсионный метод
- импедансный метод
- индикаторный метод
- интерференционный метод
- ионизационный метод
- итерационный метод спуска
- итерационный метод
- калориметрический метод
- капельный метод
- капиллярный метод измерения вязкости
- каскадный метод
- качественный метод
- квантовомеханический метод
- кластерно-вариационный метод
- когерентный метод ускорения
- количественный метод
- коллективный метод ускорения
- коллиматорный метод
- колориметрический метод
- комбинированный метод
- компенсационный метод
- корреляционный метод
- косвенный метод
- кристалл-дифракционный метод
- лабораторный метод
- локальный метод малых возмущений
- люминесцентный метод
- магнитострикционный метод
- малоугловой метод Лауе
- масс-спектрографический метод
- масс-спектрометрический метод
- матричный метод Джонса
- матричный метод расчёта конструкций
- матричный метод
- мембранный метод
- метод мерцания
- метод R-матрицы
- метод S-матрицы
- метод абсолютного счёта
- метод адиабатических инвариантов
- метод активации фольг
- метод амплитудного анализа
- метод анаглифов
- метод аналогий
- метод антисовпадений
- метод апертурного зондирования
- метод апертурного синтеза
- метод аппроксимации
- метод аппроксимирующих функций
- метод Арнольда
- метод атомного пучка
- метод атомных орбиталей
- метод Берга - Баррета
- метод Бете - Пайерлса
- метод Бете - Тайта
- метод блоховских волн
- метод Боголюбова
- метод бозонизации
- метод Бома - Гросса
- метод Бормана
- метод Борна - Оппенгеймера
- метод Бриджмена - Стокбаргера
- метод Бриджмена
- метод Бринеля
- метод Брэгга
- метод Брюкнера
- метод Бубнова - Галеркина
- метод быстрейшего спуска
- метод быстрого преобразования Фурье
- метод быстрых совпадений
- метод Вайссенберга
- метод вакуумного осаждения
- метод валентных связей
- метод валентных схем
- метод Ван-дер-Поля
- метод вариации постоянных
- метод Ватсона
- метод Вентцеля - Крамерса - Бриллюэна
- метод Вернейля с дуговым нагревом
- метод Вернейля с плазменным нагревом
- метод Вернейля
- метод вертикального вытягивания
- метод вертикального радиозондирования
- метод верхней релаксации
- метод взвешенных невязок
- метод Вигнера - Зейтца
- метод Вигнера
- метод визуализации потока
- метод Вика - Чандрасекара
- метод Вика
- метод Винера - Хопфа
- метод ВКБ
- метод влажной эмульсии
- метод внезапных возмущений
- метод внутреннего газового наполнения
- метод внутреннего жидкостного наполнения
- метод внутреннего маркера
- метод внутреннего наполнения
- метод внутриимпульсной линейной частотной модуляции
- метод водородного спектрометра
- метод возбуждения
- метод возвратно-наклонного зондирования
- метод возмущений
- метод возмущённых стационарных состояний
- метод вращающегося кристалла
- метод вращения образца
- метод времени пролёта
- метод всеволнового счётчика
- метод встречных пучков
- метод выращивания кристаллов
- метод высокочастотного нагрева в холодном контейнере
- метод высокочастотного резонанса
- метод выталкивания
- метод вытягивания
- метод вычитания при двухизотопном сканировании
- метод газовых струек
- метод газотранспортных реакций
- метод Галеркина - Петрова
- метод Галеркина - Ритца
- метод Галеркина
- метод генераторных координат
- метод геометрической оптики
- метод гидротермального синтеза
- метод гиперсферических координат
- метод Гира
- метод годографа
- метод горизонтального вытягивания
- метод горячей стенки
- метод градиентной минимизации
- метод граничной коллокации
- метод граничных интегральных уравнений
- метод граничных точек
- метод граничных элементов
- метод графов
- метод группирования счётчиков
- метод Грэда
- метод Дарвина - Фаулера
- метод двойного индикатора
- метод двойного канала
- метод двойного пропускания
- метод двойного резонанса
- метод двойных столкновений
- метод двукратной экспозиции
- метод двумерной дифракции
- метод двухфотонной флуоресценции
- метод Дебая - Шеррера
- метод дезактивации
- метод декорирования
- метод деформационного отжига
- метод диагностики
- метод диаграмм Фейнмана
- метод Дирака - Фока
- метод дискретных координат
- метод дисперсионного интерферометра
- метод дисперсионных соотношений
- метод дифракции медленных электронов
- метод дифракции на порошке
- метод дифракции электронов в сходящемся пучке
- метод дифракции электронов высоких энергий на отражение
- метод дифракции электронов высоких энергий
- метод дифракции электронов низких энергий
- метод дифракции электронов
- метод дифференциального поглощения
- метод диэлектрического резонатора
- метод догоняющих пучков
- метод дополнительного нагрева
- метод дополнительных деформаций
- метод дополнительных нагрузок
- метод дробных шагов
- метод дублетов
- метод Дюпена
- метод Дюпри
- метод жидкой эмульсии
- метод заданного давления
- метод задержанных совпадений
- метод замедлителя
- метод замещения образцов
- метод замещения
- метод замкнутой системы
- метод замораживания напряжений
- метод запаздывающих совпадений
- метод запаянной ампулы
- метод заряженного плунжера
- метод затемнённого поля
- метод Захарова - Кузнецова
- метод звёздных пар
- метод зонной плавки
- метод измерения вязкости вытягиванием нитей
- метод измерения вязкости по затуханию крутильных колебаний диска
- метод измерения вязкости по затуханию крутильных колебаний шара
- метод измерения вязкости по поглощению на боре
- метод измерения вязкости по скорости подъёма пузырьков
- метод измерения вязкости с помощью колеблющегося диска
- метод измерения вязкости с помощью колеблющегося шара
- метод измерения
- метод изображений
- метод изогнутого кристалла
- метод изоморфного замещения
- метод изотопного разбавления
- метод изотопного разведения
- метод изотопных индикаторов
- метод инвариантов
- метод интегралов движения
- метод интегрального счёта
- метод интегральных уравнений
- метод интегрирования по траектории
- метод интерференционного интеграла
- метод ионной имплантации
- метод искажённых волн
- метод исключения Гаусса
- метод исключения неизвестных
- метод исключения Холеского
- метод искусственной вязкости
- метод испарения в вакууме
- метод испарения растворителя
- метод испытания балки с односторонним надрезом
- метод испытания
- метод источника и поглотителя
- метод источников и стоков
- метод итераций
- метод итерационного поиска
- метод кадмиевого отношения
- метод кадмиевой разности
- метод канонического оператора
- метод Карлсона
- метод КАРС
- метод касательной плоскости
- метод катастроф
- метод каустик
- метод качаний
- метод качающегося кристалла
- метод квадрупольного резонанса
- метод квантового дефекта
- метод Кейса
- метод Киропулоса
- метод Кирхгофа
- метод кластерных полей
- метод Климонтовича
- метод когерентного накопления
- метод когерентных состояний
- метод когерентных частот
- метод колебаний
- метод колеблющегося диска
- метод коллективных переменных
- метод коллокаций
- метод колонной рекомбинации
- метод Кольрауша
- метод компенсации волнового фронта
- метод комплексных амплитуд
- метод комплексных угловых моментов
- метод комптоновских профилей
- метод конечных разностей
- метод конечных элементов в напряжениях
- метод конечных элементов в перемещениях
- метод конечных элементов с собственными функциями
- метод конечных элементов
- метод контрольного объёма
- метод конформных преобразований
- метод Косселя
- метод котлового осциллятора
- метод коэффициента опасности
- метод краевых волн
- метод кристаллизации в пламени
- метод кристаллических орбиталей
- метод критического пути
- метод Крэнка - Никольсона
- метод крюков Рождественского
- метод Кубо
- метод Лагранжа
- метод лазерного напыления
- метод Ланга
- метод Лауэ
- метод легирования
- метод Ленгмюра - Блоджетт
- метод линеаризованных присоединённых плоских волн
- метод линейной интерполяции
- метод линейной комбинации атомных орбиталей
- метод линейной передачи энергии
- метод линейных МТ-орбиталей
- метод ЛКАО
- метод лучевой оптики
- метод люминесцирующего зонда
- метод Ляпунова
- метод магнетронной мишени
- метод магнитного анализа
- метод мазков
- метод максимального правдоподобия
- метод малого параметра
- метод малоуглового рассеяния
- метод малых возмущений
- метод малых наклонов
- метод матрицы переноса
- метод матрицы плотности
- метод медленного охлаждения
- метод Мерсье
- метод мерцаний
- метод меченых атомов
- метод мнимого времени
- метод многоканальной К-матрицы
- метод многократных столкновений
- метод многолучевой интерференции
- метод многощелевой ионизационной камеры
- метод МО ЛКАО
- метод моделирования
- метод модельного потенциала
- метод молекулярного замещения
- метод молекулярной динамики
- метод молекулярных орбиталей
- метод молекулярных пучков
- метод моментов
- метод Монте-Карло
- метод наведённых решёток
- метод наименьших квадратов
- метод наискорейшего спуска
- метод накачки
- метод наклона реактора
- метод наложения
- метод напыления
- метод нейтрализации
- метод некогерентного рассеяния радиоволн
- метод неопределённых коэффициентов
- метод неопределённых множителей Лагранжа
- метод непрерывных дробей
- метод носителей
- метод нулевого баланса
- метод нулевых биений
- метод Ньютона - Рафсона
- метод обратного отражения
- метод обратного рассеяния на монокристаллах
- метод обратного рассеяния нейтронов
- метод обратной задачи рассеяния
- метод обратной итерации
- метод обратной прогонки
- метод обратных отображений
- метод обращения переменных
- метод обрыва связей
- метод общего снижения температуры
- метод оврагов
- метод ограниченного телесного угла
- метод однократной бомбардировки
- метод определения предела текучести по заданной остаточной деформации
- метод оптимизации конструкций
- метод оптически чувствительных покрытий
- метод оптического гетеродинирования
- метод оптического зонда
- метод ортогонализованных плоских волн
- метод осаждения
- метод осколков деления
- метод ослабления доплеровского смещения
- метод осреднения
- метод остаточных лучей
- метод отбора частиц по времени пролёта
- метод отдачи ядра
- метод отношения активностей
- метод отображения Пуанкаре
- метод отравления бором
- метод охлаждения
- метод оценки
- метод Пайерлса
- метод парамагнитного резонанса
- метод параметра удара
- метод парциальных волн
- метод перевала
- метод переменных коэффициентов упругости
- метод переменных направлений
- метод перенормировки
- метод переходных кривых
- метод периодических цепей связи
- метод Петрова - Галеркина
- метод пирозонда
- метод пирометрического осаждения
- метод плавных возмущений
- метод площадей
- метод поглощения космического радиоизлучения
- метод подбора
- метод подвижного нагревателя
- метод подгонки кривой
- метод подкритического реактора
- метод поиска
- метод полиномов
- метод полного отражения нейтронов
- метод полнопрофильного анализа
- метод половинных отклонений
- метод полостной ионизационной камеры
- метод полюсов Редже
- метод поперечной развёртки
- метод пороговых детекторов
- метод порошковых фигур
- метод последовательной подстановки
- метод последовательных поколений
- метод последовательных приближений Пикара
- метод последовательных приближений
- метод постоянной сагитты
- метод предиктор-корректор
- метод преломлённых волн
- метод преобразования
- метод прерывания пучка
- метод приближённого решения
- метод приближённых вычислений
- метод приведённой толщины
- метод присоединённых плоских волн
- метод присоединённых сферических волн
- метод прицельного параметра
- метод проб и ошибок
- метод пробегов
- метод пробных возмущений
- метод проверки
- метод продлённого объёма
- метод проекционных операторов
- метод производящих координат
- метод пропускания в сферической геометрии
- метод пропускания
- метод протонов отдачи
- метод прямой зарядки
- метод псевдопотенциала
- метод пульсирующего нейтронного пучка
- метод пьедестала
- метод Раби
- метод равных высот
- метод равных отклонений
- метод радиационной фототермоупругости
- метод радиоавтографии
- метод радиоактивных индикаторов
- метод разбавления
- метод разборной камеры
- метод разделения исходных компонентов
- метод разделения переменных
- метод разделительного сопла
- метод разложения в ряд
- метод разложения по кривизне
- метод разложения по малому параметру
- метод разложения по собственным модам
- метод разложения по собственным функциям
- метод разложения
- метод размерностей
- метод разности пар
- метод разности фотонов
- метод расчёта на хрупкую прочность
- метод расчёта
- метод регенерации топлива
- метод регуляризации
- метод резонанса в атомном пучке
- метод резонансной многофотонной ионизации
- метод резонансных детекторов
- метод рекристаллизации
- метод рентгеновской дифракционной топографии
- метод реплик
- метод решётки
- метод Ритвелда
- метод Ритца
- метод ротационной вискозиметрии
- метод Рунге - Кутта
- метод Рытова
- метод Рэлея - Ритца
- метод самоиндикации
- метод самосогласованного поля
- метод самотарирования
- метод сброса стержня
- метод свободных колебаний
- метод связанных каналов
- метод сглаживания
- метод седловых точек
- метод секущих
- метод серого клина
- метод сеток
- метод сечений Пуанкаре
- метод сильно связанных электронов
- метод сильной связи
- метод синтеза из паровой фазы
- метод скрещённых пучков
- метод слабой связи
- метод случайного поиска
- метод случайных фаз
- метод смещения индикатора
- метод снятой эмульсии
- метод совместного осаждения
- метод совпадений
- метод соосаждения
- метод сопряжённого градиента
- метод сопряжённых разностей
- метод сопутствующих частиц
- метод сосредоточенных параметров
- метод спекания
- метод спин-гамильтониана
- метод спуска
- метод средней работы отрыва
- метод статистических испытаний
- метод стационарной фазы
- метод Степанова
- метод Стокбаргера - Бриджмена
- метод Стокбаргера
- метод стоячих рентгеновских волн
- метод структурного анализа
- метод суммарного счёта
- метод сферических гармоник
- метод сферических оболочек
- метод Сциларда - Чалмерса
- метод счёта импульсов
- метод Талькотта
- метод Тамма - Данкова
- метод телескопа
- метод тёмного поля
- метод температурного градиента
- метод Теплера
- метод термодиффузии
- метод Тернера
- метод толстослойных эмульсий
- метод толстостенной ионизационной камеры
- метод Томаса - Ферми
- метод точечных коллокаций
- метод транспортных реакций
- метод трапеций
- метод трёх наполнений
- метод тяжёлого атома
- метод ультразвукового распыления
- метод уравновешивания
- метод ускоренного вращения тигля
- метод усреднения Боголюбова
- метод фазового контраста
- метод фазового сопряжения
- метод фазовой модуляции
- метод факторизации
- метод Фано
- метод фарадеевского вращения
- метод Фарадея
- метод Фейнмана
- метод ферритовых колец
- метод Физо
- метод фильтров
- метод Фокса и Ли
- метод фокусировки
- метод формул сдвига
- метод фотопластинок
- метод фотоупругих покрытий
- метод фотоупругости
- метод фотоэмульсий
- метод Фудживары
- метод Фуко
- метод функции Грина
- метод функционала плотности
- метод функционалов Фока
- метод функционального интеграла
- метод характеристик
- метод характеристических матриц
- метод Харрисона
- метод Хартри - Фока
- метод Хартри
- метод Хилла
- метод химических реакций
- метод химического синтеза
- метод химического транспорта
- метод холодного тигля
- метод хрупких покрытий
- метод центрифугирования
- метод Цернике
- метод Чалмерса
- метод Чандрасекара
- метод частичных отражений
- метод Чепмена - Энскога
- метод численного расчёта
- метод численного решения
- метод Чохральского
- метод шаровых замедлителей
- метод Швингера
- метод шелковинок
- метод Шлезингера
- метод Шпольского
- метод штрафов
- метод Шульца
- метод эйконала
- метод Эйлера
- метод экстраполяции
- метод электрической аналогии
- метод электромеханической аналогии
- метод электронной литографии
- метод элементарных ячеек
- метод эталонных уравнений
- метод эталонных функций
- метод эффективного потенциала
- метод эффективной массы
- метод ядерной индукции
- метод ядерных реакций
- метод ядерных эмульсий
- метод ямок травления
- метод яркого поля
- метод ячеек
- микроволновый метод
- многогрупповой метод
- многоканальный метод
- многопараметрический метод
- многослоевой метод
- многошаговый метод
- муаровый метод получения контурных линий
- нейтронографический метод
- непертурбативный метод
- неразрушающий метод
- нефелометрический метод
- нулевой метод
- обобщённый метод Бете
- обобщённый метод Гюйгенса - Френеля
- общепринятый метод
- объективный метод
- одногрупповой метод
- одноканальный метод
- однопараметрический метод
- одношаговый метод
- оптический метод
- орбитальный метод
- отражательный муаровый метод
- парофазный метод
- пассивный метод управления горением
- перспективный метод
- пертурбативный метод
- полнопрофильный метод
- полуколичественный метод
- полуобратный метод
- поляризационно-оптический метод исследования напряжений
- поляризационно-оптический метод
- поляризационный метод
- пондеромоторный метод
- порошковый метод
- приближённый метод
- прогрессивный метод
- прямой метод граничных интегралов
- прямой метод исключения
- прямой метод
- радиационный метод поисков
- радиационный метод разведки
- радиоастрономический метод
- радиоголографический метод
- радиографический метод
- радиоизотопный метод
- радиолокационный метод
- радиоуглеродный метод
- разностный метод
- резонансный метод
- релаксационный метод
- рентгеновский метод на отражение
- рентгеновский метод на просвет
- рентгеновский метод обратного отражения
- рентгеновский метод
- рентгеногониометрический метод
- рентгенодифрактометрический метод
- рентгенодифракционный метод
- рентгеноструктурный метод
- риометрический метод
- свинцовый метод
- симплексный метод поиска
- смешанный метод
- спектральный метод
- спектрометрический метод
- спектроскопический метод
- статистический метод
- стронциевый метод
- сцинтилляционный метод
- теневой метод визуализации скачков уплотнения в параллельном пучке света
- теневой метод визуализации скачков уплотнения в расходящемся пучке света
- теневой метод испытаний
- теневой метод
- теневой муаровый метод
- теоретико-групповой метод
- термический метод проявления фотопластинок
- термолюминесцентный метод
- термоэлектрический метод
- трековый метод
- трёхуровневый метод накачки
- трибоэлектрический метод
- углеродный метод
- узловой метод
- условный выборочный метод
- формальный аксиоматический метод
- фотографический метод
- фотолюминесцентный метод
- фотометрический метод
- фотоэлектрический метод
- химический метод разделения
- химический метод
- цифровой метод
- численный метод
- эклипсный метод
- электроконтактный метод
- электромагнитный метод
- электростатический метод
- эманационный метод
- эмиссионный метод
- эмпирический метод
- энергетический метод
- эпитаксиальный метод
- явный разностный метод
- ядерный метод -
10 Спектральный метод определения никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, меди и циркония в ниобии
4.2. Спектральный метод определения никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, меди и циркония в ниобии
Спектральному методу предшествует перевод анализируемой пробы в пятиокись ниобия.
Метод основан на измерении интенсивности линий элементов примесей в спектре, полученном при испарении пятиокиси ниобия в смеси с графитовым порошком и хлористым натрием из канала графитового электрода в дуге постоянного тока.
Массовую долю примесей в ниобии (табл. 4) определяют по градуировочным графикам, построенным в координатах: логарифм отношения интенсивности линии определяемого элемента и интенсивности фона (
) - логарифм концентрации определяемого элемента (lg C).4.2.1. Аппаратура, материалы и реактивы
Спектрограф дифракционный типа ДФС-13 с решеткой 600 и 1200 штр/мм и трехлинзовой системой освещения щели или аналогичный прибор (фотоэлектрический прибор типа МФС). Допускается использовать спектрограф ДФС-8 с решеткой 1800 штрихов.
Генератор дуговой типа ДГ-2 с дополнительным реостатом или генератор аналогичного типа.
Выпрямитель 250 - 300 В, 30 - 50 А.
Микрофотометр нерегистрирующий типа МФ-2 или аналогичного типа.
Таблица 4
Определяемая примесь
Массовая доля примеси, %
Никель
1∙10-3 - 2∙10-2
Алюминий
5∙10-4 - 1∙10-2
Магний
1∙10-3 - 2∙10-3
Марганец
5∙10-4 - 5∙10-3
Кобальт
5∙10-4 - 3∙10-2
Олово
1∙10-3 - 1∙10-2
Медь
3∙10-3 - 5∙10-2
Цирконий
1∙10-3 - 2∙10-2
Спектропроектор типа ПС-18, СП-2 или аналогичного типа.
Весы аналитические.
Весы торсионные типа ВТ-500.
Ступка и пестик из органического стекла.
Бокс из органического стекла.
Электропечь муфельная с терморегулятором на температуру до 900 °С.
Чашки платиновые.
Станок для заточки графитовых электродов.
Электроды графитовые, выточенные из графитовых стержней ОС. Ч. 7 - 3 диаметром 6 мм, заточенные на усеченный конус с площадкой диаметром 1,5 мм.
Электроды графитовые, выточенные из графитовых стержней ОС. Ч. 7 - 3 диаметром 6 мм, с каналом глубиной 5 мм, внешний диаметр - 3,0 мм, внутренний диаметр - 2,0 мм, длина заточенной части - 6 мм.
Порошок графитовый ОС. Ч. 8 - 4 по ГОСТ 23463-79.
Фотопластинки спектрографические марок СПЭС и СП-2, размером 9´12/1,2 или 13´18/1,2, обеспечивающие нормальное почернение аналитических линий и близлежащего фона в спектре.
Лампа инфракрасная ИКЗ-500 с регулятором напряжения РНО-250-0,5 или аналогичным.
Спирт этиловый ректификованный по ГОСТ 18300-72, дважды перегнанный в кварцевом приборе.
Никеля окись черная по ГОСТ 4331-78, ч.
Алюминия окись безводная для спектрального анализа, х. ч.
Магния окись по ГОСТ 4526-75, ч. д. а.
Марганца (IV) окись по ГОСТ 4470-79, ч. д. а.
Кобальта (II - III) окись по ГОСТ 4467-79, ч. или ч. д. а.
Олова двуокись, ч. д. а.
Циркония двуокись по ГОСТ 21907-76.
Меди (II) окись по ГОСТ 16539-79.
Натрий хлористый ОС. Ч. 6 - 1.
Ниобия пятиокись, в которой содержание определяемых элементов не превышает установленной для метода нижней границы диапазона определяемых массовых долей.
Проявитель:
метол........................................................................................ 2,2 г
натрий сернистокислый безводный по ГОСТ 195-77......... 96 г
гидрохинон по ГОСТ 19627-74............................................. 8,8 г
натрий углекислый по ГОСТ 83-79...................................... 48 г
калий бромистый по ГОСТ 4160-74..................................... 5 г
вода........................................................................................... до 1000 см3.
Фиксаж:
тиосульфат натрия кристаллический по СТ СЭВ 223-75... 300 г
аммоний хлористый по ГОСТ 3773-72................................ 20 г
вода........................................................................................... до 1000 см3.
4.2.2. Приготовление буферной смеси
Буферную смесь, состоящую из 90 % угольного порошка и 10 % хлористого натрия готовят, смешивая 0,9000 г угольного порошка и 0,1000 г хлористого натрия с 20 см3 спирта в течение 30 мин и высушивая под инфракрасной лампой.
4.2.3. Приготовление образцов сравнения (ОС)
Основной образец сравнения, содержащий по 1 % никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, циркония и меди, готовят механическим истиранием и перемешиванием буферной смеси с окислами соответствующих металлов.
Навески массой 0,0141 г окиси никеля, 0,0189 г окиси алюминия, 0,0186 г окиси магния, 0,0158 г окиси марганца (IV) 0,0136 г (II - III)-окиси кобальта, 0,0127 г двуокиси олова, 0,0125 г окиси меди и 0,0140 г двуокиси циркония помещают в ступке из органического стекла и добавляют 0,8818 г буферной смеси. Смесь тщательно перемешивают, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии, в течение 1 ч и высушивают под инфракрасной лампой до постоянной массы.
Последовательным разбавлением основного образца сравнения буферной смесью готовят серию образцов сравнения (ОС) с убывающей концентрацией определяемых элементов. Содержание каждой из определяемых примесей (в процентах на содержание металла в металлическом ниобии) и вводимые в смесь навески буферной смеси и разбавляемого образца приведены в табл. 5.
Образцы сравнения хранят в полиэтиленовых банках с крышками.
Таблица 5
Обозначение образца
Массовая доля каждой из определяемых примесей, %
Масса навески, г
буферной смеси
разбавляемого образца
ОС 1
1∙10-1
3,3930
0,3770 (основной образец)
ОС 2
5∙10-2
1,7700
1,7700 (ОС 1)
ОС 3
2∙10-2
2,3100
1,5400 (ОС 2)
ОС 4
1∙10-2
1,8500
1,8500 (ОС 3)
ОС 5
5∙10-3
1,7000
1,7000 (ОС 4)
ОС 6
2∙10-3
2,1000
1,4000 (ОС 5)
ОС 7
1∙10-3
1,5000
1,5000 (ОС 6)
ОС 8
5∙10-4
1,0000
1,0000 (ОС 7)
4.1.2 - 4.2.3. (Измененная редакция, Изм. № 1).
4.2.4. Проведение анализа
4.2.4.1. Перевод металлического ниобия в пятиокись ниобия
Пробу металлического ниобия 1 - 3 г помещают в платиновую чашку и прокаливают в муфельной печи при температуре 800 - 900 °С в течение 2 ч. Полученную пятиокись ниобия в виде белого порошка охлаждают в эксикаторе, помещают в пакет из кальки к передают на спектральный анализ.
4.2.4.2. Определение никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, меди и циркония
Пробы и образцы сравнения готовят в боксе. Для этого 100 мг пробы и 100 мг буферной смеси или 100 мг образца сравнения и 100 мг пятиокиси ниобия тщательно растирают в плексигласовой ступке в течение 5 мин. Подготовленную пробу или образец сравнения набивают в каналы трех графитовых электродов, предварительно обожженных в дуге постоянного тока при 7 А в течение 5 с.
Электроды устанавливают в штатив в вертикальном положении. Верхним электродом служит графитовый стержень, заточенный на конус. Между электродами зажигают дугу постоянного тока силой 7 А с последующим повышением (в течение 20 с) до 15 А. Электрод с пробой включен анодом.
Во избежание выброса материала из кратера электродов, ток включают при сомкнутых электродах с их последующим разведением, величина которого контролируется по проекции на промежуточной диафрагме. Время экспозиции - 120 с, промежуточная диафрагма - 5 мм.
Спектры в области длин волн 2500 - 3500 нм фотографируют с помощью спектрографа ДФС-13 с решеткой 600 штр/мм, используя трехлинзовую систему освещения щели на фотопластинку тип II чув. 15 ед., ширина щели спектрографа 15 мкм.
4.2.4.3. Определение меди
Пробу, приготовленную по п. 4.2.4.2, помещают в канал графитового электрода. Электрод с пробой или образцом сравнения служит анодом (нижний электрод). Верхним электродом является графитовый электрод, заточенный на конус. Между электродами зажигают дугу постоянного тока. В первые 15 с сила тока - 5 А, последующие 1 мин 45 с - 15 А. Полная экспозиция 120 с. Спектры фотографируют на спектрографе ДФС-13 с решеткой 1200 штр/мм с трехлинзовой осветительной системой. Фотопластинка типа ЭС чув. 9. Промежуточная диафрагма 0,8 мм. Шкалу длин волн устанавливают на 320 нм. Ширина щели спектрографа 15 мкм. Во время экспозиции расстояние между электродами поддерживают равным 3 мм.
Спектр каждой пробы и каждого образца сравнения регистрируют на фотопластинке по три раза. Экспонированные пластинки проявляют, промывают водой, фиксируют, окончательно промывают и сушат.
4.2.4.1 - 4.2.4.3. (Измененная редакция, Изм. № 1).
4.2.4.4. Обработка результатов
В каждой спектрограмме фотометрируют почернения аналитической линии определяемого элемента Sл+ф (табл. 6) и близлежащего фона Sф и вычисляют разность почернений DS = Sл+a - Sф.
Таблица 6
Определяемый элемент
Длина волны аналитической линии, нм
Алюминий
309,2
Магний
279,5
Марганец
279,4
Медь
327,4
Олово
284,0
Цирконий
339,2
Никель
300,2
Кобальт
304,4
По трем параллельным значениям DS1, DS2, DS3, полученным по трем спектрограммам, снятым для каждого образца, находят среднее арифметическое результатов
.От полученных средних значений
переходят к значениям 
с помощью таблиц, приведенных в приложении к ГОСТ 13637.1-77.Используя значения lg C и
для образцов сравнения, строят градуировочный график в координатах 
, lg C. По этому графику по значениям 
для пробы определяют содержание примеси в пробе.Разность наибольших и наименьших из результатов трех параллельных и результатов двух анализов с доверительной вероятностью Р = 0,95 не должна превышать величин допускаемых расхождений, приведенных в табл. 7.
Таблица 7
Определяемый элемент
Массовая доля, %
Допускаемое расхождение, %
параллельных определений
результатов анализов
Алюминий
0,0005
0,005
0,01
0,0003
0,003
0,006
0,0002
0,002
0,004
Цирконий
0,001
0,005
0,01
0,0006
0,003
0,005
0,0004
0,002
0,003
Магний
0,001
0,005
0,01
0,0006
0,004
0,006
0,0001
0,003
0,004
Марганец
0,0005
0,005
0,01
0,0003
0,003
0,006
0,0002
0,002
0,004
Медь
0,005
0,01
0,06
0,003
0,003
0,006
0,02
0,002
0,002
0,003
0,01
0,002
Олово
0,001
0,005
0,01
0,0006
0,003
0,005
0,0004
0,002
0,003
Никель
0,001
0,005
0,001
0,0006
0,003
0,005
0,0004
0,002
0,003
Кобальт
0,0005
0,005
0,01
0,0003
0,003
0,005
0,0002
0,002
0,003
Допускаемые расхождения для промежуточных содержаний рассчитывают методом линейной интерполяции.
4.2.4.5. Контроль правильности результатов
Правильность результатов анализа серии проб контролируют для каждой определенной примеси при переходе к новому комплекту образцов сравнения, С этой целью для одной и той же пробы, содержащей определенную примесь в контролируемом диапазоне концентраций с использованием старого и нового комплектов образцов сравнения, получают четыре результата анализа и вычисляют средние арифметические значения. Затем находят разность большего и меньшего значений. Результаты анализа считают правильными, если указанная разность не превышает допускаемых расхождений результатов двух анализов пробы по содержанию определяемой примеси.
Контроль правильности проводят для каждого интервала между ближайшими по содержанию образцами сравнения по мере поступления на анализ соответствующих проб.
4.3. Массовую долю тантала, титана, кремния, железа, вольфрама, молибдена определяют по ГОСТ 18385.1-79 - ГОСТ 18385.4-79 или спектральными методами (пп. 4.3.1 - 4.3.3), кислорода и водорода - по ГОСТ 22720.1-77, азота - по ГОСТ 22720.1-77 или ГОСТ 22720.4-77.
Допускается применять другие методы анализа примесей, по точности не уступающие указанным.
При разногласиях в оценке химического состава его определяют по ГОСТ 18385.1-79 - ГОСТ 18385.4-79, ГОСТ 22720.1-77, ГОСТ 22720.1-77 и ГОСТ 22720.4-77.
Массовую долю углерода определяют по ГОСТ 22720.3-77. Кроме анализатора АН-160, допускается использовать приборы АН-7529 и АН-7560.
4.2.4.4. - 4.3. (Измененная редакция, Изм. № 1).
4.3.1. Спектральный метод определения примесей титана, кремния, железа, никеля, алюминия, магния, марганца, олова, меди, циркония, при массовой доле каждой примеси от 0,001 до 0,02.
Метод основан на возбуждении дугой постоянного тока и фотографической регистрации спектров образцов сравнения и спектров анализируемого материала, превращенного в оксиды прокаливанием, с последующим определением массовой доли примесей по градуировочным графикам, построенным в координатах: логарифм отношения интенсивности линии определяемого элемента к интенсивности фона lg(Iл/Iф) - логарифм массовой доли определяемого элемента lg C.
Относительное среднее квадратическое отклонение, характеризующее сходимость результатов параллельных определений, при массовой доле каждой примеси 0,001 % составляет 0,15, при массовой доле каждой примеси 0,02 % - 0,11.
Суммарная погрешность результата анализа с доверительной вероятностью Р = 0,95 при массовой доле примеси 0,00100 % не должна превышать ± 0,00023 % абс, при массовой доле примеси 0,0200 % - ± 0,0033 % абс.
4.3.1.1. Аппаратура, материалы и реактивы
Спектрограф ДФС-13 с решеткой 1200 штр/мм или аналогичный.
Источник постоянного тока УГЭ, или ВАС-275-100, или аналогичный.
Микроденситометр МД-100, или микрофотометр МФ-2, или аналогичный.
Спектропроектор типа ПС-18, или ДСП-2, или аналогичный.
Весы аналитические с погрешностью взвешивания не более 0,0002 г.
Весы торсионные ВТ-500 или аналогичные с погрешностью взвешивания не более 0,002 г.
Печь муфельная с терморегулятором, на температуру от 400 до 1100 °С.
Шкаф сушильный типа СНОД 3.5.3.5.3.5./3М или аналогичный.
Станок для заточки графитовых электродов.
Ступки и пестики из оргстекла.
Чашки платиновые по ГОСТ 6563-75.
Фотопластинки спектральные: диапозитивные, СП-2, СП-ЭС, обеспечивающие в условиях анализа нормальные почернения аналитических линий и близлежащего фона в спектре.
Порошок графитовый ос. ч. 8 - 4 по ГОСТ 23463-79 или аналогичный, обеспечивающий чистоту по определяемым примесям. Нижние электроды, выточенные из графитовых стержней ос. ч. 7 - 3 диаметром 6 мм, имеющие размеры, мм:
высота заточенной части....................... 10
диаметр заточенной части.................... 4,0
глубина кратера...................................... 3,8
диаметр кратера..................................... 2,5
Верхние электроды из графитовых стержней ос. ч. 7 - 3 диаметром 6 мм, заточенные на усеченный конус с площадкой диаметром 1,5 мм, высотой заточенной конической части 4 мм.
Натрий фтористый, ос. ч. 7 - 3.
Ниобия пятиокись для оптического стекловарения, ос. ч. 7 - 3.
Титана (IV) двуокись, ос. ч. 7 - 3.
Кремния (IV) двуокись по ГОСТ 9428-73, ч. д. а.
Железа (III) окись, ос. ч. 2 - 4.
Никеля (II) закись, ч. д. а.
Алюминия (III) окись, х. ч.
Магния (II), ч. д. а.
Марганца (IV) окись, ос. ч. 9 - 2.
Олова (IV) окись, ч. д. а.
Меди (II) окись (гранулированная) по ГОСТ 16539-79.
Циркония (IV) двуокись, ос. ч. 6 - 2.
Спирт этиловый ректификованный по ГОСТ 18300-87.
Лак идитоловый, 1 %-ный спиртовый раствор.
Метол по ГОСТ 25664-83.
Гидрохинон по ГОСТ 19627-74.
Натрий сернистокислый (сульфит) по ГОСТ 195-77.
Натрий углекислый по ГОСТ 83-79.
Калий бромистый по ГОСТ 4160-74.
Натрия тиосульфат кристаллический по ГОСТ 244-76.
Калий сернистокислый пиро (метабисульфит).
Вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72.
Проявитель, готовят следующим образом: 2 г метола, 52 г сульфита натрия, 10 г гидрохинона, 40 г углекислого натрия, 5 г бромистого калия растворяют в воде, в указанной последовательности доводят объем раствора водой до 1000 см3, перемешивают и фильтруют.
Фиксаж, готовят следующим образом: 250 г тиосульфата натрия и 25 г метабисульфита калия растворяют в указанной последовательности в 750 - 800 см3 воды, доводят объем раствора водой до 1000 см3, перемешивают и фильтруют.
Допускается применять проявитель и фиксаж, рекомендованные для применяемых фотопластинок.
Основная смесь, представляющая собой механическую смесь оксида ниобия и оксидов определяемых элементов с массовой долей каждой примеси 1 % в расчете на содержание металла в смеси металлов. Для ее приготовления каждый препарат оксида помещают в отдельную чашку, прокаливают в течение 90 мин в муфельной печи при температурах, указанных в табл. 7, охлаждают в эксикаторе и берут навески, указанные в табл. 7а. Переносят в ступку сначала приблизительно одну четвертую часть навески пятиокиси ниобия, затем полностью навески оксидов всех элементов-примесей и тщательно растирают смесь в ступке в течение 60 мин, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии. Затем в ту же ступку переносят оставшуюся часть навески пятиокиси ниобия и опять тщательно растирают смесь в течение 60 мин, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии. После этого смесь сушат в сушильном шкафу, а затем прокаливают при температуре (400 ± 20) °С в течение 60 мин и охлаждают в эксикаторе.
Промежуточная смесь и рабочие образцы сравнения (РОС1 - РОС4); готовят, смешивая указанные в табл. 7б массы пятиокиси ниобия, основной смеси, промежуточной смеси и рабочего образца сравнения РОС2. Перед взятием навесок пятиокись ниобия прокаливают 90 мин при (950 ± 20) °С, а ОС, ПС и РОС2 - при температуре (400 ± 20) °С в течение 60 мин и охлаждают в эксикаторе. Смешивают тщательным растиранием в ступке в течение 60 мин, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии. После этого смесь сушат в сушильном шкафу, прокаливают при температуре (400 ± 20) °С в течение 60 мин и охлаждают в эксикаторе.
Буферная смесь 95 % графитового порошка и 5 % фтористого натрия. Навески помещают в ступку и тщательно растирают в течение 30 мин.
4.3.1.2. Проведение анализа
Навеску порошка металлического ниобия массой 0,5 г помещают в платиновую чашку, прокаливают в муфельной печи при температуре 800 - 850 °С в течение 2 ч и охлаждают в эксикаторе. Переносят в ступку и смешивают с буферной смесью в соотношении 2:1 (по массе), помещают в пакет из кальки.
Каждый из рабочих образцов сравнения РОС1 - РОС4 также смешивают с буферной смесью в соотношении 2:1 (по массе).
Верхние и нижние электроды обжигают в дуге переменного тока при силе тока 10 А в течение 10 с.
Каждой из полученных смесей (смесь, полученная из навески пробы, и полученные из РОС1 - РОС4) плотно заполняют кратеры шести нижних электродов неоднократным погружением электродов в пакет со смесью. После этого в каждый нижний электрод помещают 2 капли спиртового раствора идитолового лака. Подсушивают электроды в сушильном шкафу при температуре 80 - 90 °С в течение (15 ± 1) мин.
В кассету спектрографа помещают:
в коротковолновую область спектра - диапозитивную фотопластинку;
в длинноволновую - фотопластинку марки СП-2.
Нижний электрод (с материалом пробы или с материалом рабочего образца сравнения) включают анодом дуги постоянного тока. Спектры фотографируют при следующих условиях:
сила тока................................................ 10 ± 0,5 А
межэлектродный промежуток............. 2 мм
экспозиция............................................. (40 ± 3) с
щель спектрографа................................ (0,020 ± 0,001) мм
промежуточная диафрагма.................. (5,0 ± 0,1) мм
деление шкалы длин волн.................... (303,0 ± 2,5) нм
Фотографируют по три раза спектр каждого рабочего образца сравнения и по три раза спектр каждой пробы, используя для каждого образца сравнения (или пробы) три из шести нижних электродов. Затем фотографирование спектров повторяют, используя оставшиеся три заполненных пробой (образцом сравнения) нижних электрода.
Экспонированные фотопластинки проявляют, промывают водой, фиксируют, окончательно промывают водой и сушат.
4.3.1.3. Обработка результатов
В каждой фотопластинке фотометрируют почернения аналитических линий определяемого элемента Sл+ф(табл. 7в) и близлежащего фона Sф и вычисляют разность почернений DS = Sл+ф - Sф.
По трем значениям DS1, DS2, DS3, полученным из трех спектрограмм, снятым для каждого образца на одной фотопластинке, находят среднее арифметическое DS. От полученных значений DS переходят к значениям lg(Iл/Iф) с помощью таблиц, приведенных в ГОСТ 13637.1-77.
Таблица 7а
Наименование препарата
Формула
Температура прокаливания перед взвешиванием, °С (пред. откл. ± 20 °С)
Масса навески прокаленного препарата оксида, г
Коэффициент пересчета массы металла на массу оксида
Масса металла в навеске оксида, г
Массовая доля металла в смеси металлов, %
Пятиокись ниобия
Nb2O5
950
10,2996
1,4305
7,2000
90
Двуокись титана
TiO2
1100
0,1334
1,6680
0,0800
1
Двуокись кремния
SiO2
1100
0,1711
2,1393
0,0800
1
Окись железа
Fe2O3
800
0,1144
1,4297
0,0800
1
Закись никеля
NiO
600
0,1018
1,2725
0,0800
1
Окись алюминия
Al2O3
1100
0,1512
1,8895
0,0800
1
Окись магния
MgO
1100
0,1327
1,6583
0,0800
1
Окись марганца
MnO2
400
0,1266
1,5825
0,0800
1
Окись олова
SnO2
600
0,1016
1,2696
0,0800
1
Окись меди
CuO
700
0,1001
1,2518
0,0800
1
Двуокись циркония
ZrO2
1100
0,1081
1,3508
0,0800
1
11,5406
8,0000
100
Используя значения lg C (где С - массовая доля определяемой примеси по табл. 7б) и полученные по первой фотопластинке значения lg(Iл/Iф) для рабочих образцов сравнения РОС1 - РОС4, строят градуировочный график в координатах lgC, lg(Iл/Iф). По этому графику, используя полученное по той же фотопластинке значение lg(Iл/Iф) для пробы, определяют массовую долю примеси в пробе - первый из двух результатов параллельных определений данной примеси.
Таблица 7б
Обозначение образца
Массовая доля каждой примеси в расчете на содержание металла в смеси металлов, %
Масса навески, г
Суммарная масса смеси оксидов, содержащая 8 г металла, г
прокаленного препарата пятиокиси ниобия
разбавляемого образца (в скобках приведено его обозначение)
Промежуточная смесь
0,100
10,2996
1,1541 (ОС)
11,4537
РОС1
0,020
9,1552
2,2907 (ПС)
11,4459
РОС2
0,009
10,4140
1,0308 (ПС)
11,4443
POС4
0,004
10,1726
1,2716 (РОС2)
11,4442
РОС3
0,003
11,1007
0,3436 (ПС)
11,4443
Таблица 7в
Определяемый элемент
Аналитическая линия, нм
Магний
285,21
Кремний
288,16
Марганец
294,92
Никель
300,25
Железо
302,06
Титан
307,86
Алюминий
308,22
Цирконий
316,60
Олово
317,50
Медь
327,47
Результат второго параллельного определения получают таким же образом по второй пластинке.
Разность большего и меньшего результатов параллельных определений с доверительной вероятностью Р = 0,95 не должна превышать допускаемого расхождения, указанного в табл. 7г.
Таблица 7г
Массовая доля примеси, %
Абсолютное допускаемое расхождение двух результатов параллельных определений, %
0,0010
0,0004
0,020
0,006
Допускаемое расхождение для промежуточных значений массовой доли примеси, не указанных в таблице, находят методом линейного интерполирования.
Если этот норматив удовлетворяется, вычисляют результат анализа - среднее арифметическое результатов двух параллельных определений.
4.3.1.4. Контроль правильности результатов - по п. 4.2.4.5.
4.3.2. Спектральный метод определения примесей вольфрама, молибдена и кобальта при массовой доле каждой примеси от 0,001 до 0,01 %
Метод основан на возбуждении дугой постоянного тока и фотографической регистрации спектров образцов сравнения и анализируемого материала, превращенного в оксиды прокаливанием, с. последующим определением массовой доли примесей по градуировочным графикам.
Относительное среднее квадратическое отклонение, характеризующее сходимость результатов параллельных определений каждой примеси, составляет 0,17 - при массовой доле примеси и 0,10 - при массовой доле примеси 0,005 - 0,010 %.
4.3.2.1. Аппаратура, материалы и реактивы
Спектрограф ДФС-13 с решеткой 600 штр/мм или аналогичный.
Источник постоянного тока ВАС-275-100 или аналогичный.
Микрофотометр МФ-2 или аналогичный.
Спектропроектор ДСП-2 или аналогичный.
Шкаф сушильный типа СНОД 3.5.3.5.3.5/3М или аналогичный.
Весы аналитические с погрешностью взвешивания не более 0,0002 г.
Весы торсионные ВТ-500 или аналогичные.
Печь муфельная с терморегулятором на температуру от 400 до 1000 °С.
Электроплитки с закрытой спиралью и покрытием, исключающим загрязнение определяемыми элементами.
Станок для заточки графитовых электродов.
Ступки и пестики из оргстекла.
Чашки платиновые по ГОСТ 6563-75.
Эксикаторы.
Фотопластинки формата 9´12 см спектральные тип II и ЭС или аналогичные, обеспечивающие в условиях анализа нормальные почернения аналитических линий и фона в спектре.
Нижние электроды типа «рюмка», выточенные из графитовых стержней ос. ч. 7 - 3 диаметром 6 мм, имеющие размеры, мм:
высота «рюмки»...................... 5
глубина кратера...................... 3
диаметр кратера...................... 4
диаметр шейки........................ 3,5
высота шейки.......................... 3,5
Верхние электроды - стержни диаметром 6 мм из графита ос. ч. 7 - 3, заточенные на цилиндр диаметром 4 мм.
Кислота соляная по ГОСТ 14261-77, ос. ч.
Ниобия пятиокись, ос. ч. 7 - 3, в спектре которой в условиях анализа отсутствуют аналитические линии определяемых примесей.
Вольфрама (VI) окись, ч. д. а.
Молибдена (IV) окись, ч. д. а.
Кобальта (II, III) окись по ГОСТ 4467-79.
Сурьмы (III) окись, х. ч.
Свинец хлористый.
Калий сернокислый, ос. ч. 6 - 4.
Спирт этиловый ректификованный по ГОСТ 18300-87.
Метол по ГОСТ 25664-83.
Гидрохинон по ГОСТ 5644-75.
Натрий сернистокислый (сульфит) по ГОСТ 195-77.
Калий бромистый по ГОСТ 4160-74, ч. д. а.
Натрий углекислый по ГОСТ 83-79, ч. д. а.
Натрия тиосульфат кристаллический по ГОСТ 244-76.
Калий сернистокислый пиро (метабисульфит).
Вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72.
Посуда химическая термостойкая: стаканы вместимостью на 100, 500 и 1000 см3, воронки.
Проявитель, готовят следующим образом: 2 г метола, 52 г сульфита натрия, 10 г гидрохинона, 40 г углекислого натрия, 5 г бромистого калия растворяют в воде в указанной последовательности, доводят объем раствора водой до 1000 см3, перемешивают и фильтруют.
Фиксаж, готовят следующим образом: 250 г тиосульфата натрия и 25 г метабисульфита калия растворяют в указанной последовательности в 750 - 800 см3 воды, доводят объем раствора водой до 1000 см3, перемешивают и фильтруют.
Допускается применять проявитель и фиксаж, рекомендованные для применяемых фотопластинок.
Буферная смесь, готовят следующим образом: тщательно растирают в ступке 7,4900 г хлористого свинца, 2,5000 г сернокислого калия, 0,0100 г окиси сурьмы. Время истирания на виброистирателе 40 - 50 мин, вручную - 90 - 120 мин.
Основная смесь, представляющая собой механическую смесь оксидов ниобия и определяемых примесей с массовой долей каждой примеси 1 % в расчете на содержание металла в смеси металлов. Для приготовления смеси каждый препарат оксидов помещают в отдельную чашку, прокаливают в течение 90 мин в муфельной печи при температурах, указанных в табл. 7д, охлаждают в эксикаторе и берут навески, указанные в табл. 7д. Переносят в ступку сначала приблизительно 1/4 часть навески пятиокиси ниобия, затем полностью навески оксидов всех примесей и тщательно растирают смесь в ступке в течение 60 мин, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии. Затем в ту же ступку переносят оставшуюся часть навески пятиокиси ниобия и опять тщательно растирают смесь в течение 60 мин, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии. После этого смесь сушат в сушильном шкафу, затем прокаливают при температуре (400 ± 20) °C в течение 60 мин и охлаждают в эксикаторе.
Промежуточную смесь и рабочие образцы сравнения (РОС1 - РОС4) готовят, смешивая указанные в табл. 7е навески пятиокиси ниобия, основной смеси, промежуточной смеси и рабочего образца сравнения РОС1. Перед взятием навесок пятиокись ниобия прокаливают 90 мин при (950 ± 20) °С, а ОС, ПС и РОС1 - при температуре (400 ± 20) °С в течение 60 мин; охлаждают в эксикаторе. Смешивают тщательным растиранием в ступке в течение 90 мин, добавляя спирт для поддержания смеси в кашицеобразном состоянии. После этого смесь сушат в сушильном шкафу, прокалива
Таблица 7д
Наименование препарата
Формула
Температура прокаливания перед взвешиванием, °С
Масса навески прокаленного препарата оксида, г
Коэффициент пересчета массы металла на массу оксида
Масса металла в навеске оксида, г
Массовая доля металла в смеси металлов, %
Пятиокись ниобия
Nb2O5
900 - 1000
13,8759
1,4305
9,7000
97
Трехокись вольфрама
WO3
650
0,1261
1,2611
0,1000
1
Трехокись молибдена
MoO3
450 - 500
0,1500
1,5003
0,1000
1
Окись кобальта
Со2О3
800
0,1407
1,4072
0,1000
1
14,2927
10,0000
100
находят значения lg(Iл/Iф), пользуясь таблицами по ГОСТ 13637-77. Используя значения lg C ( где С - массовая доля вольфрама по табл. 7е) и полученные по первой фотопластинке значения lg(Iл/Iф) для рабочих образцов сравнения РОС1 - РОС4, строят градуировочный график в координатах lgC, lg(Iл/Iф). Поэтому графику, используя полученные по той же фотопластинке значения lg(Iл/Iф) для пробы, определяют массовую долю вольфрама в пробе - первый из двух результатов параллельных определений. Результат второго параллельного определения вольфрама получают таким же образом по второй фотопластинке.
При определении молибдена и кобальта для каждого из трех спектров (пробы или образца сравнения), снятых на одной фотопластинке, находят значение DS = Sл - Scи вычисляют среднее арифметическое трех значений - значение
. По полученным значениям DS для образцов сравнения строят градуировочный график в координатах lgC, DS, где С - массовая доля определяемого элемента в образцах сравнения согласно табл. 7. По этому графику, используя полученные по той же фотопластинке значения DS для пробы, определяют массовую долю определяемого элемента в пробе - первый из двух результатов параллельных определений. Результат второго параллельного определения получают таким же образом по второй фотопластинке.Таблица 7е
Обозначение образца
Массовая доля каждой из определяемых примесей, в расчете на содержание металла в смеси металлов, %
Масса навески, г
Суммарная масса смеси оксидов, содержащая 10 г металлов, г
прокаленного препарата пятиокиси ниобия
разбавляемого образца (в скобках приведено его обозначение)
ПС
0,100
12,8745
1,4293 (ПС)
14,3038
РОС1
0,010
12,8745
1,4301 (ПС)
14,3049
РОС2
0,004
13,7328
0,5722 (ПС)
14,3050
РОС3
0,002
14,0189
0,2861 (ПС)
14,3050
РОС4
0,001
12,8745
1,4305 (РОС1)
14,3050
Разность большего и меньшего результатов параллельных определений элемента с доверительной вероятностью Р = 0,95 не должна превышать допускаемого расхождения, приведенного в табл. 7ж и табл. 7з.
Если этот норматив удовлетворяется, вычисляют результат анализа - среднее арифметическое двух результатов параллельных определений.
Таблица 7ж
Массовая доля примеси, %
Абсолютное допускаемое расхождение двух результатов параллельных определений, %
0,0010
0,0005
0,0050
0,0014
0,0100
0,0028
Допускаемые расхождения для промежуточных значений массовой доли примеси, не указанных в таблице, находят методом линейной интерполяции.
4.3.2.4. Контроль правильности результатов - по п. 4.2.4.5.
4.3.3. Экстракционно-фотометрический метод определения тантала (от 0,02 до 0,10 %)
Метод основан на измерении оптической плотности толуольного экстракта фтортанталата бриллиантового зеленого.
4.3.3.1. Аппаратура, материалы и реактивы
Весы аналитические.
Таблица 7з
Определяемый элемент
Аналитическая линия, нм
Интервал определяемых значений массовой доли, %
Вольфрам
400,87
От 0,001 до 0,01
Молибден
319,40
» 0,001 » 0,004
320,88
» 0,001 » 0,01
Кобальт
340,51
» 0,001 » 0,004
345,35
» 0,001 » 0,01
Плитка электрическая лабораторная с закрытой спиралью мощностью 3 кВт.
Центрифуга лабораторная, марки ЦЛК-1 или аналогичная.
Колориметр фотоэлектрический концентрационный КФК-2 или аналогичный.
Пипетки 1-2-2; 2-2-5; 2-2-10; 2-2-20; 2-2-25; 2-2-50; 6-2-10 по ГОСТ 20292-74.
Цилиндры 1-500; 1-2000 по ГОСТ 1770-74.
Бюретки 6-2-5; 1-2-100 по ГОСТ 20292-74.
Колбы 2-100-2; 2-200-2; 2-500-2 по ГОСТ 1770-741
Стакан В-1-100 ТС по ГОСТ 25336-82.
Стакан фторопластовый с носиком вместимостью 100 см3.
Банка БН-0,5, по ГОСТ 17000-71.
Бидон БДЦ-5,0 по ГОСТ 17000-71.
Пробки из пластмассы по ГОСТ 1770-74.
Цилиндры из полиэтилена вместимостью 60 см3.
Пробирки центрифужные из полиэтилена вместимостью 10 см3.
Пипетки из полиэтилена вместимостью 10 см3.
Кислота серная по ГОСТ 4204-77, х. ч. раствор 5 моль/дм3 и 1,4 моль/дм3.
Кислота азотная по ГОСТ 4461-77, х. ч.
Кислота фтористоводородная по ГОСТ 10484-78, х. ч., раствор 7,5 моль/дм3.
Раствор для отмывки экстрактов с концентрациями серной кислоты 1,18 моль/дм3 и фтористоводородной кислоты 0,98 моль/дм3. Для приготовления 5 дм3 раствора в полиэтиленовый бидон помещают 245 см3 раствора фтористоводородной кислоты 20 моль/дм3, 1175 см3 раствора серной кислоты 5 моль/дм3, 3580 см3 дистиллированной воды и перемешивают в течение 30 - 40 с.
Бриллиантовый зеленый, ч., раствор 3 г/дм3, готовят растворением 3 г красителя в 1 дм3 воды на холоду в течение 1 ч при перемешивании с помощью электромеханической мешалки.
Толуол по ГОСТ 5789-78, ч. д. а.
Ацетон по ГОСТ 2603-79, ч. д. а.
Аммоний сернокислый по ГОСТ 3769-78, х. ч.
Порошок танталовый (высокой чистоты), с массовой долей тантала не менее 99,5 %.
Вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72.
4.3.3.2. Подготовка к измерению
4.3.3.2.1. Приготовление основного раствора и рабочих растворов
Основной раствор пятиокиси тантала 0,200 г/дм3: навеску металлического порошка тантала 0,0819 г, взвешенную с погрешностью ± 0,0005 г, помещают во фторопластовый стакан, добавляют полиэтиленовой пипеткой 5,0 см3 концентрированной фтористоводородной кислоты, 0,5 см3 азотной кислоты, нагревают на плитке до полного растворения навески и упаривают до объема 1 - 2 см3. Раствор переводят в мерную колбу вместимостью 500 см3, в которую предварительно помещают 250 см3 дистиллированной воды, доводят до метки и перемешивают в течение 30 - 40 с. Приготовленный раствор хранят в полиэтиленовой посуде.
Рабочие растворы пятиокиси тантала 2,0 и 20,0 мкг/см3 отбирают пипеткой 2,0 и 20,0 см3 основного раствора в мерные колбы вместимостью 200 см3, добавляют 56,0 см3 раствора серной кислоты 5 моль/дм3, доводят водой до метки и перемешивают в течение 30 - 40 с.
4.3.3.2.2. Построение градуировочного графика
В полиэтиленовые ампулы помещают из бюретки 2,0; 4,0; 6,0; 8,0; 10,0 см3 рабочего раствора 2,0 мкг/см3 и 1,0; 2,0; 3,0; 4,0; 5,0 см3 рабочего раствора 20,0 мкг/см3. Доводят раствором серной кислоты концентрации 1,4 моль/дм3 (2,8 н) до 10,0 см3, добавляют полиэтиленовой пипеткой 1,5 см3 раствора фтористоводородной кислоты 7,5 моль/дм3, 25,0 см3 толуола, добавляют из бюретки 11,0 см3 раствора бриллиантового зеленого и встряхивают в течение 60 с на электромеханическом встряхивателе или вручную. После расслаивания фаз в течение 60 - 90 с 10 см3 экстракта помещают в центрифужную пробирку и центрифугируют в течение 3 мин со скоростью 3000 мин-1.
Оптическую плотность измеряют на КФК-2 в кюветах с толщиной слоя поглощения 5,0 мм в интервале 20 - 100 мкг пятиокиси тантала и 30,0 мм в интервале 4 - 20 мкг пятиокиси тантала при λmax = (590 ± 10) нм. В качестве раствора сравнения применяют толуол.
Одновременно через все стадии проводят два параллельных контрольных опыта. Оптическая плотность контрольного опыта не должна превышать 0,03 в кювете 30 мм и 0,005 - в кювете 5 мм. По полученным данным строят два градуировочных графика.
4.3.3.3. Проведение измерений
Пробу массой 0,1000 г, взвешенную с погрешностью не более 0,0005 г, помещают во фторопластовый стакан, добавляют полиэтиленовой пипеткой 10 см3 концентрированной фтористоводородной кислоты, затем пипеткой 2,0 см3 азотной кислоты и 8,0 см3 концентрированной серной кислоты, нагревают на плитке до начала выделения паров серной кислоты, затем продолжают нагрев еще 2 - 3 мин. Стаканы охлаждают до температуры (25 ± 5) °С, добавляют 3,0 г сульфата аммония, разбавляют водой до 10 см3 и переводят в мерную колбу вместимостью 100 см3, доводят водой до метки и перемешивают 30 - 40 с.
Аликвотную часть полученного раствора, содержащую 4 - 100 мкг пятиокиси тантала, помещают в полиэтиленовый цилиндр вместимостью 60 см3, доводят раствором серной кислоты концентрации 5 моль/дм3 до 10,0 см3, добавляют 1,5 см3 раствора фтористоводородной кислоты концентрации 7,5 моль/дм3 и оставляют на 8 - 10 мин. Далее добавляют пипеткой 25,0 см3 толуола, 11,0 см3 раствора бриллиантового зеленого и производят экстракцию, как описано в п. 4.3.3.2. После расслаивания фазы разделяют и экстракт в количестве 20 - 25 см3 отмывают. Добавляют 10,5 см3 раствора для отмывки (полиэтиленовой пипеткой), 10,0 см3 раствора бриллиантового зеленого из бюретки и встряхивают, как описано в п. 4.3.3.2. После расслаивания фазы разделяют и экстракт в количестве не менее 16,0 см3 вновь подвергают операции отмывки. После расслаивания фаз 10 см3 экстракта помещают в центрифужную пробирку и центрифугируют в течение 3 мин со скоростью 3000 об/мин.
Оптическую плотность экстракта измеряют на КФК-2, как описано в п. 4.3.3.2.2. В закрытых полиэтиленовых пробирках экстракты стабильны в течение 4 ч. Допускается проведение экстракции и отмывки экстрактов одновременно в шестнадцати пробирках. Массу пятиокиси тантала определяют по градуировочному графику.
4.3.3.4. Обработка результатов
Массовую долю тантала (X) в процентах вычисляют по формуле
где m - масса пятиокиси тантала, найденная по градуировочному графику, мкг;
m1- масса навески пробы, г;
a - аликвотная часть раствора, отбираемая для экстракции, см3;
V - объем мерной колбы, равный 100 см3;
1,221 - коэффициент пересчета.
За результат измерений принимают среднее арифметическое результатов двух параллельных определений.
Допускаемые расхождения результатов двух параллельных определений не должны превышать значений допускаемых расхождений, приведенных в табл. 7и.
4.3.3.5. Контроль правильности анализа
Контроль правильности анализа проводят методом добавок.
Суммарная массовая доля тантала в пробе с добавкой должна быть не меньше утроенного значения нижней границы определяемых массовых долей и не больше верхней границы определяемых массовых долей.
Таблица 7и
Массовая доля тантала, %
Допускаемые расхождения, %
0,02
0,01
0,05
0,01
0,10
0,02
Суммарное содержание тантала (Х1) в пробе с добавкой в процентах вычисляют по формуле
где Хан - массовая доля тантала в пробе, %;
m1- масса тантала, введенная с добавкой, мкг;
m2- масса навески пробы, г.
Анализ считают правильным (Р = 0,95), если разность большей и меньшей из двух величин Х1и результата анализа пробы с добавкой не превышает
где d1- допускаемое расхождение между результатами двух параллельных определений в пробе без добавки;
d2- допускаемое расхождение между результатами двух параллельных определений в пробе с добавкой.
4.3.1 - 4.3.3.5. (Введены дополнительно, Изм. № 1).
Источник: ГОСТ 26252-84: Порошок ниобиевый. Технические условия оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > Спектральный метод определения никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, меди и циркония в ниобии
-
11 diffraction method
-
12 diffraction method
-
13 diffraction method
The New English-Russian Dictionary of Radio-electronics > diffraction method
-
14 diffraction method
English-Russian dictionary of electronics > diffraction method
-
15 diffraction berg-barrett technique
English-Russian dictionary of electronics > diffraction berg-barrett technique
-
16 transmission berg-barrett technique
English-Russian dictionary of electronics > transmission berg-barrett technique
-
17 diffraction technique
дифракционный метод (напр., измерения)Англо-русский словарь промышленной и научной лексики > diffraction technique
-
18 Rasterverfahren
сущ.1) комп. метод с использованием растра2) авт. дифракционный метод (напр., для определения поперечного сечения автомобиля)3) кинотех. растровый метод (стереокино или стереофотографии), растровый способ (цветовоспроизведения или цветной фотографии) -
19 diffraction Berg-Barrett technique
Универсальный англо-русский словарь > diffraction Berg-Barrett technique
-
20 transmission Berg-Barrett technique
Универсальный англо-русский словарь > transmission Berg-Barrett technique
- 1
- 2
См. также в других словарях:
дифракционный метод — Метод оптического НК, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля. [Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины … Справочник технического переводчика
дифракционный метод измерения пространственной когерентности — дифракционный метод Метод измерения, основанный на исследовании картины дифракции, которая образуется при прохождении исследуемого излучения через отверстие определенной формы. Примечание Для отверстия простой формы степень пространственной… … Справочник технического переводчика
дифракционный метод оптического излучения — дифракционный метод Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля. [ГОСТ 24521 80] Тематики контроль неразрушающий… … Справочник технического переводчика
Дифракционный метод оптического излучения — Дифракционный метод оптического излучения; дифракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля...… … Официальная терминология
Дифракционный метод измерения пространственной когерентности — 75. Дифракционный метод измерения пространственной когерентности Дифракционный метод Метод измерения, основанный на исследовании картины дифракции, которая образуется при прохождении исследуемого излучения через отверстие определенной формы.… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
дифракционный метод оптического излучения — 2.2.14 дифракционный метод оптического излучения; дифракционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля.… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
дифракционный метод исследования — difrakcinis tyrimo metodas statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Metodas, pagrįstas elektromagnetinės spinduliuotės ar dalelių difrakcija. atitikmenys: angl. diffractional research technique vok. Diffraktionsverfahren, n rus … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
дифракционный метод исследования — difrakcinis tyrimo metodas statusas T sritis fizika atitikmenys: angl. diffractional research techniques vok. Diffraktionsverfahren, n rus. дифракционный метод исследования, m pranc. méthode de diffraction, f … Fizikos terminų žodynas
Спектральный метод определения никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, меди и циркония в ниобии — 4.2. Спектральный метод определения никеля, алюминия, магния, марганца, кобальта, олова, меди и циркония в ниобии Спектральному методу предшествует перевод анализируемой пробы в пятиокись ниобия. Метод основан на измерении интенсивности линий… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ 24453-80: Измерения параметров и характеристик лазерного излучения. Термины, определения и буквенные обозначения величин — Терминология ГОСТ 24453 80: Измерения параметров и характеристик лазерного излучения. Термины, определения и буквенные обозначения величин оригинал документа: 121. Абсолютная спектральная характеристика чувствительности средства измерений… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ Р 53696-2009: Контроль неразрушающий. Методы оптические. Термины и определения — Терминология ГОСТ Р 53696 2009: Контроль неразрушающий. Методы оптические. Термины и определения оригинал документа: 2.2.16 абсорбционный метод оптического излучения; абсорбционный метод: Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
